UNE-EN 60749-3:2017 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3: Examen visuel externe (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en juillet 2017.)