UNE-EN 60749-29:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 29: Ensayo de enclavamiento.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 29: Latch-up test

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 29: Essai de verrouillage