UNE-EN 62416:2010 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Ensayo de portadora caliente en transistores MOS (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dispositifs à semi-conducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS (Entérinée par l’AENOR en septembre 2010.)