UNE-EN 60749-27:2006 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 27: Ensayo de la sensibilidad de la descarga electrostática. Modelo máquina (HBM) (IEC 60749-27:2006)(Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006) (Endorsed by AENOR in November of 2006.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM) (CEI 60749-27:2006) (Entérinée par l’AENOR en novembre 2006.)