Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 8: Estanquidad.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 8: Sealing
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 8: Etanchéité.
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31.080.01 / Dispositivos semiconductores en general
CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores
EN 60749-8:2003 (Idéntico)
IEC 60749-8:2002 (Idéntico)
IEC 60749-8:2002 + CORR:2003 (Idéntico)
IEC 60749-8:2002 CORR 2:2003 (Idéntico)
IEC 60749-8:2002 CORR:2003 (Idéntico)
Esta norma está disponible en:
Formato físico y digital
Español / Inglés
