UNE-EN 60749-18:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 18: Rayonnements ionisants (dose totale)