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Norma
UNE-EN 60749-26:2014 (Ratificada)

UNE-EN 60749-26:2014 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 26: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por AENOR en julio de 2014.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (Endorsed by AENOR in July of 2014.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 26: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle du corps humain (HBM) (Entérinée par l’AENOR en juillet 2014.)

Fecha anulación:
2021-02-20
Fecha ratificación:
2014-07-01 /Anulada
Equivalencias internacionales:

EN 60749-26:2014 (Idéntico)

IEC 60749-26:2013 (Idéntico)

IEC 60749-26:2014 (Idéntico)