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Norma
UNE-EN 60749:2000

UNE-EN 60749:2000

Dispositivos semiconductores. Ensayos mecánicos y climáticos.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques

Fecha Edición:
2000-11-15 /Anulada
Fecha anulación:
2005-10-01
ICS:

31.080.01 / Dispositivos semiconductores en general

CTN:

CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores

Equivalencias internacionales:

EN 60749:1999 (Idéntico)

IEC 60749:1996 (Idéntico)

Anulaciones:

Es anulada por: UNE-EN 60749-10:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-11:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-1:2004

Es anulada por: UNE-EN 60749-12:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-13:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-2:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-3:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-4:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-6:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-7:2003

Es anulada por: UNE-EN 60749-9:2003

Anula a: UNE 20699:1992

Modificaciones:

Es modificada por: UNE-EN 60749/A1:2001

Es modificada por: UNE-EN 60749/A2:2002