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Norma
ISO 25498:2010

ISO 25498:2010

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope

Analyse par microfaisceaux — Microscopie électronique analytique — Analyse par diffraction par sélection d'aire au moyen d'un microscope électronique en transmission

Fecha Anulación:
2010-05-17 / Withdrawn
Comité:
ISO/TC 202/SC 3 - Analytical electron microscopy
Relación con otras normas ISO:

Es anulada por: ISO 25498:2018

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