Home>Encuentra tu norma>Busca tu norma>ISO

Norma

ISO 6342:2003

ISO 6342:2003

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area

Micrographie — Cartes à fenêtre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur

Fecha:

2003-07-15 / Published

ICS:

37.080 - Document imaging applications. Including micrographic, electronic and optical applications

Comité:

ISO/TC 171 - Document management applications

Relación con otras normas ISO:

Anula a: ISO 6342:1993

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Ingles