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Norma
ISO 6342:1993

ISO 6342:1993

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area

Micrographie — Cartes à fenêtre — Méthode de mesurage de la zone de surépaisseur

Fecha Anulación:
1993-08-05 / Withdrawn
ICS:

37.080 - Document imaging applications. Including micrographic, electronic and optical applications

Comité:
ISO/TC 171/SC 2 - Document file formats, EDMS systems and authenticity of information
Relación con otras normas ISO:

Es anulada por: ISO 6342:2003

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