IEC 60749-11:2002/COR2:2003

Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

Corrigendum 2 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains

Fecha:

2003-08-13 /Vigente

Resumen (inglés):

Modification of the validity date: now put at 2007.

Resumen (francés):

Relaciones con otras normas IEC

Modifica a: IEC 60749-11:2002

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Bilingue