IEC 60749:1984

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods.

Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques .

Fecha:

1996-10-28 /Anulada

Resumen (inglés):

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Resumen (francés):

Relaciones con otras normas IEC

Es modificada por: IEC 60749:1984/AMD1:1991
Es modificada por: IEC 60749:1984/AMD2:1993
Es anulada por: IEC 60749:1996
Anula a: IEC 60147-5A:1981

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