IEC 60147-2F:1974

Supplement F - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 2: General principles of measuring methods

Complément F - Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesure - Partie 2: Principes généraux des méthodes de mesure

Fecha:

1995-03-31 /Anulada

Resumen (inglés):

Deals with tunnel diodes and varactor diodes. The section dealing with varactor diodes is specifically a supplement to the section in IEC 147-2B on variable capacitance diodes.

Resumen (francés):

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