IEC 60147-1:1972

Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 1: Essential ratings and characteristics

Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesures - Partie 1: Valeurs limites et caractéristiques essentielles

Fecha:

1995-03-31 /Anulada

Resumen (inglés):

Resumen (francés):

Relaciones con otras normas IEC

Anula a: IEC 60147-1:1963

Comprar en AENOR

Esta norma está disponible en:

Formato digital

Bilingue