UNE-EN 60749-7:2003
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales..
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases.
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels.