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Norma
IEC TS 62878-2-4:2015

IEC TS 62878-2-4:2015

Device embedded substrate - Part 2-4: Guidelines - Test element groups (TEG)

Substrat avec appareil(s) intégré(s) - Partie 2-4: Directives - Groupes d'éléments d'essai (TEG)

Fecha:
2015-03-27 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC TS 62878-2-4:2015 describes the test element group devices useful when measuring basic properties of device embedded substrates. It is applicable to device embedded substrates fabricated by use of organic base material, which include for example active or passive devices, discrete components formed in the fabrication process of electronic wiring board, and sheet formed components.
Resumen (francés):
L'IEC TS 62878-2-4:2015 décrit les appareils du groupe d'éléments d'essai utiles pour mesurer les propriétés de base des substrats avec appareil(s) intégré(s). Il est applicable aux substrats avec appareil(s) intégré(s) fabriqués à partir de matériaux de base organiques, y compris par exemple les appareils actifs ou passifs, les composants discrets formés lors du processus de fabrication d'une carte de câblage électronique, ainsi que les composants de feuilles minces.

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