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Norma
IEC 60147-0C:1973

IEC 60147-0C:1973

Supplement C - Essential ratings and characteristics et semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 0: General and terminology

Complément C - Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesure - Partie 0: Généralités et terminologie

Fecha:
1973-01-01 /Anulada
Resumen (inglés):
Deals with terminology for diodes, bipolar transistors, thyristors, field-effect transistors, Hall effect devices, magneto-resistive devices.
Resumen (francés):

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